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手机测试平台
产品简述
PRODUCT DESCRIPTION
使用测试类型：
CPU DDR EMCP PM POP
测试频率：
RF 高频 6GHz
测试电流：2A
可实现手机芯片单独功能测试或整机性能测试。同时保证长时间的稳定测试性能。
测试目的：
保证所有功能完备情况下，对手机芯片进行各项功能测试，验证芯片升级功能以及批量检查芯片不良率
使用环境：
常温25℃，干燥的环境下使用，可有效防止主板PAD氧化以及温度偏高导致主板电路故障。
测试优点：
方便，快捷的测试手机芯片，保证手机原有各项功能之外，可根据需求增加其他额外功能，比如外接Jtag板，测试点以及信号传输等特殊需求
测试缺点：
测试外接端口由于厂商不同而不统一，厂商需要提供端口样式及端口类型。
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